对大口径KDP晶体的夹持方式以及夹持对面形的影响进行了研究。利用ANSYS建立KDP晶体侧面和正面夹持的有限元模型。研究了侧面均布荷载、侧面均匀及非均匀两点荷载作用时KDP晶体面形，得出了总荷载大小是影响晶体面形的关键因素。讨论了理想状态和实际状态下KDP晶体正面夹持面形，得出了元件表面平面度是影响晶体夹持面形主要因素。通过分析和计算，找到了降低元件平面加工精度对晶体正面夹持面形影响的理论技术方案。