您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  

搜索资源列表

  1. 如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

  2. 因LBIST向量的随机本性,采用LogicBIST设计会表现出抗随机模型的趋向,从而导致低的故障覆盖范围。为解决该问题,我们借助抗随机故障分析(RRFA)方法,插入测试点。对用LBIST设计的故障检测能力的计算借助故障模拟的帮助完成,它给出了“测试质量”的估计。我们将在下面就此进行更详细的讨论,同时介绍可用来增加LBIST设计中故障检测能力的技术。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-22
    • 文件大小:80896
    • 提供者:weixin_38689223