数控小磨头的磨削抛光方法，国内自上世纪80年代就有人开始跟踪研究，也得到了预期的效果。但是由于其自身原理上的缺陷（采用了非柔性的硬磨头），导致加工后残留有碎切带，从而降低了光学系统（元件）的光学传函和分辨率，特别是在磨制大相对孔径的深度非球面时。Walker教授在上世纪90年代就发现并解决了这一问题。他采用柔性的球型气嚢来代替硬性的小磨头（不残留切带），用可改变方向和大小的进动角使磨头的去除函数呈高斯分布。但是他所建立的坐标系统过于复杂（有7根轴），因而其结构很复杂，机床的结构尺寸远远大于所加工