导读：安捷伦科技公司日前宣布推出两款内插器解决方案，可结合逻辑分析仪用于测试DDR4和DDR3 DRAM设计。 　　这两款内插器解决方案均能快速且精确地捕获地址、命令和数据信号，以进行设计调试和验证测量。 　　Agilent W4633A BGA内插器结合Agilent E5849A探头使用可以探测数据速率更高的DDR4 x4或x8 DRAM设计。Agilent W3636A BGA内插器可以让工程师对2G容量以上的非堆叠DDR3 x16 DRAM进行探测。 　　当前的DDR4数据速率已提

导读：安捷伦科技公司日前宣布推出两款内插器解决方案，可结合逻辑分析仪用于测试DDR4和DDR3 DRAM设计。 　　这两款内插器解决方案均能快速且地捕获地址、命令和数据信号，以进行设计调试和验证测量。 　　Agilent W4633A BGA内插器结合Agilent E5849A探头使用可以探测数据速率更高的DDR4 x4或x8 DRAM设计。Agilent W3636A BGA内插器可以让工程师对2G容量以上的非堆叠DDR3 x16 DRAM进行探测。 　　当前的DDR4数据速率已提升至