20多年来，研究人员和半导体制造商一直在试图开发一种针对混合信号IC的实用模拟BIST（内置自检）。这种技术能够用数字测试仪作混合信号IC测试，以及简化的多址测试，从而能减少IC测试成本，以及IC上市时间。其它预期优点还有更快的测试开发，以及系统上的自检等。 　　大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR（线性反馈移位寄存器）生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器捕获响应，将移出的结果压缩成一个

20多年来，研究人员和半导体制造商一直在试图开发一种针对混合信号IC的实用模拟BIST（内置自检）。这种技术能够用数字测试仪作混合信号IC测试，以及简化的多址测试，从而能减少IC测试成本，以及IC上市时间。其它预期优点还有更快的测试开发，以及系统上的自检等。

引言 　　大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR（线性反馈移位寄存器）生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器捕获响应，将移出的结果压缩成一个数字标志，再将其与一个正确的标志作逐位对比。尽管工业逻辑BIST的细节要更复杂，但基本原理仍适用于多时钟域、多周期延迟路径，以及电源轨噪声等。 　　1 “模拟”的定义 　　“模拟”电路对不同的人有不同的含义。一个PLL或SERDES（串行器/解串器

引言 　　大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR（线性反馈移位寄存器）生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器捕获响应，将移出的结果压缩成一个数字标志，再将其与一个正确的标志作逐位对比。尽管工业逻辑BIST的细节要更复杂，但基本原理仍适用于多时钟域、多周期延迟路径，以及电源轨噪声等。 　　1 “模拟”的定义 　　“模拟”电路对不同的人有不同的含义。一个PLL或SERDES（串行器/解串器