本文利用有限单元法,在宽温环境(-20 ℃～+88 ℃)下,对层状膜结构磁光盘的瞬态温度场进行了模拟,着重分析了环境温度对磁光盘温度场的影响,研究了不同环境温度下磁光盘记录灵敏度同记录光脉冲宽度的关系,为进一步研究宽温环境下磁光盘的热磁记录和磁光读出特性提供了分析手段。