您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  

搜索资源列表

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的嵌入式存储器的测试及可测性设计研究

  2. 引言   近年来,消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC(系统级芯片)产品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战,最关键的是要在深亚微米半导体的设计、工艺、封装和测试领域获得持续的进步。   SoC是采用IP复用技术的一种标准设计结构,在多功能电子产品中得到了广泛的应用。SoC的典型结构包括CPU、存储器、外围逻辑电路、多媒体数字信号编解码器和接口模块等。现在的SoC中,存储器通常占据整个芯片的大部分面
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-20
    • 文件大小:148480
    • 提供者:weixin_38703895