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  1. 基于S3C2440 ARM的信号采集与传输硬件系统的研究与设计

  2. 在当前数字信息技术和网络技术高速发展的时代,嵌入式系统已经广泛渗 透到科学研究,工程设计,军事技术等领域以及人们的日常生活"随着国内外 嵌入式产品的进一步开发和推广,嵌入式技术和人们的生活结合得越来越紧密" 由于嵌入式系统已经让我们享受了许多便利的生活,而且越来越受重视, Mrr的Dav记Clark首度提出了/后PC时代0一词,指出个人计算机只是提供在 这个过渡时期的解决方案,而非最佳的方式,最终发展应用将不再停留在桌上 的个人计算机,而是从桌面上蔓延下来,进入用户的日常生活中"也就是说, 将

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2013-02-25
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：pengwangguo

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的TMS320F2812与AD73360在数据采集中的应用

  2. 摘要：提出采样系统的硬件采用AD73360型AD转换器采集测量多路电压和电流信号；使用TMS320F2812 DSP芯片实现高速同步采样及电力参数在时域的计算；给出了AD73360和TMS320F2812的硬件接口电路。采样系统软件使用IQmath Library以实现浮点运算与定点程序代码的无缝接口．简化了程序开发，采用C语言编程．给出了主程序、多通道缓冲串行接口(McBSP)初始化过程等的流程图。论述了采样接收中断、电力参数的时域计算、时域采样数据处理等技术。通过测试验证了设计方案的适用性和

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：330752
    • 提供者：weixin_38733885

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的基于嵌入式WinCE 6.0 的脉冲/数据发生器软件设计

  2. 摘要：实现了基于嵌入式WinCE 6.0的脉冲/数据发生器软件系统设计。详细介绍了脉冲/数据发生器系统设计方案、人机界面开发、应用程序移植、流驱动开发及GPIO操作，阐述了开发过程中的技术要点和关键步骤。通过实际测试，该软件界面友好、操作方便、运行稳定，能正确实现脉冲/数据发生器各项功能，且具有一定的容错性。采用面向对象程序设计，便于后期软件维护和升级。 　　0 引言 　　脉冲/数据发生器作为通用测试信号源，能够产生脉冲、群脉冲和数据三种类型的信号输出。参数连续可调的脉冲信号和大容量、多样化

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：162816
    • 提供者：weixin_38687505

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的基于CPLD的USB总线的隔离接口实现

  2. 摘要：本文详细介绍了 USB总线的光隔离接口的隔离原理、硬件组成及控制程序的设计。该实现方案采用先进的高速光隔离技术和 CPLD控制技术，对基于 USB的测试与测量的设备、人体起保护作用并保持数据信号的完整性。 　　1 引言 　　大容量数据的高速传输是存储技术的研究的热点技术，而在工业环境的数据传输中抗干扰技术以及医疗设备对人身的安全也是目前研究的热门课题，USB（Universal Serial Bus）是 “通用串行总线”。它是一种应用在 PC领域的接口技术。其主要优点是：可以热插拔、携

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-11
    • 文件大小：225280
    • 提供者：weixin_38741244

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的嵌入式测试方案及高速测试技术

  2. 前言 　　目前，在许多应用领域，例如处理器、移动电话、调制解调器等产品，SOC技术已经成为主要的研究方向。这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权（IP）核，甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中。SOC芯片的应用，对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助，顺应了产品轻薄短小的趋势。 　　安捷伦公司推出的93000 SOC测试系统，完全满足业界需求，对于高速数字电路、嵌入式内存、混合信号测试都提出了有效的解决方案

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-09
    • 文件大小：96256
    • 提供者：weixin_38576045

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的基于I2C总线的大型开关矩阵设计与实现

  2. 介绍了一种基于I2C总线的大型开关矩阵结构及其功能，给出了其测试电路结构组成及控制电路组成。 　　根据测试流程，给出了主机控制程序设计及部分实现代码，井针对开关矩阵硬件构成，分别给出了各个组成部分的固件程序代码。该系统为低成本、便携化、通用化、多通道测试方案提供了一种新的实现手段。 　　1 引言　　　　自动测试设备在军事及工业领域的应用越来越广泛，然而在电路单元尤其是电路板测试中，由于被测单元种类多，被测通道数量大，传统的开关矩阵体积大、切换速度慢、电气性能差。已不能满足现代测试仪器高速、便

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-19
    • 文件大小：79872
    • 提供者：weixin_38671628

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的科利登新推高速串行总线集成测试解决方案

  2. 为半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出高性价比、性能良好的解决方案Sapphire D-6432DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出强化了科利登市场的Sapphire测试平台。     Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC参数测

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-04
    • 文件大小：52224
    • 提供者：weixin_38738506