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  1. ARM嵌入式系统开发典型模块（高清完整版）

  2. 第1部分　硬件典型模块 第1章　基于ARM的最小系统模块　3 1.1　嵌入式系统简介　3 1.1.1　嵌入式系统的概念　3 1.1.2　嵌入式系统的结构　3 1.1.3　嵌入式系统的特点　5 1.1.4　嵌入式系统的发展趋势　6 1.2　最小系统结构及框图　7 1.3　最小系统的电源设计　8 1.4　最小系统的时钟系统设计　14 1.5　最小系统的复位系统设计　17 1.6　最小系统的存储器系统设计　20 1.7　最小系统的软件设计　24 1.7.1　ARM嵌入式操作系统简介及选择　24 1.

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-10-25
    • 文件大小：8388608
    • 提供者：jsntghf

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的MSP430编程器仿真器以及JTAG、SBW、BSL接口的区别

  2. 对于51系统来说，很容易理解编程器和仿真器。     通俗的说，仿真器是用来调试仿真的，编程器是用来批量生产时对MCU进行烧写目标代码的。     对于MSP430来说，无论仿真还是烧写程序一般可以通过：JTAG、SBW、BSL接口进行。JTAG、SBW接口可以用于仿真接口，BSL接口不能用于仿真。而编程器则三种接口都支持。     所以并不能说JTAG只支持仿真不支持编程，这是概念错误，JTAG仅仅是一种接口协议而已。     下面简单描述一下三种接口的区别：     1、 JTAG

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：60416
    • 提供者：weixin_38735987

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的ARM开发在JTAG仿真器调试的应用

  2. JTAG仿真器也称为JTAG调试器，是通过ARM芯片的JTAG边界扫描口进行调试的设备。JTAG仿真器比较便宜，连接比较方便，通过现有的JTAG边界扫描口与ARMCPU核通信，属于完全非插入式（即不使用片上资源）调试，它无需目标存储器，不占用目标系统的任何端口，而这些是驻留监控软件所必需的。另外，由于JTAG调试的目标程序是在目标板上执行，仿真更接近于目标硬件，因此，许多接口问题，如高频操作限制、AC和DC参数不匹配，电线长度的限制等被最小化了。使用集成开发环境配合JTAG仿真器进行开发是目前采

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：248832
    • 提供者：weixin_38669881

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的劳特巴赫公司针对TI MSP430微控制器设计推出调试仿真头

  2. 2011年2月讯--世界上最大的硬件辅助调试工具生产厂商劳特巴赫公司，面向德州仪器（Texas Instrument）的16位MSP430微控制器系列推出了一款高性能的调试仿真头。下图就是基于MSP430的调试仿真头。       MSP430（Mixed Signal Processor一种16位超低功耗的混合信号处理器）目前由劳特巴赫的TRACE32 PowerDebug通过Spy-Bi-Wire和4-Wire JTAG（联合测试工作组Joint Test Action Group的简称，是

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：76800
    • 提供者：weixin_38712874

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的探讨基于JTAG技术的嵌入式系统测试的各个阶段

  2. 引言 　　IEEE 1149.1边界扫描测试标准（通常称为JTAG、1149.1或“dot 1”）是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1（JTAG）标准。为了更好地理解这种方法，本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的，通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入，推动设计向新一代发展。 　　大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1（JTAG）标准。如果系统采用的是复杂FPG

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：185344
    • 提供者：weixin_38670529

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的ARM内核基本结构

  2. ARM内核有4个功能模块T、D、M、I，可供生产厂商根据不同用户的要求来配置生产ARM芯片。 　　其中：T功能模块表示16位Thumb，可以在兼顾性能的同时减少代码尺寸。M功能模块表示8位乘法器。D功能模块表示Debug，该内核中放置了用于调试的结构，通常它为一个边界扫描链JTAG，可使CPU进入调试模式，从而可方便地进行断点设置、单步调试。I功能模块表示EmbeddedICE Logic，用于实现断点观测及变量观测的逻辑电路部分，其中的TAP控制器可接入到边界扫描链。 　　下面以图1为例，

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-13
    • 文件大小：97280
    • 提供者：weixin_38643141

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的JTAG的软件流程

  2. TAP（测试访问端口）控制器是一个16状态的有限状态机，为JTAG提供控制逻辑，控制进入JTAG结构中各种寄存器内数据的扫描与操作。状态转移图如图所示，在TCK同步时钟上升沿的TMS引脚的逻辑电压来决定状态转移的过程。 　　对于由TDI引脚输入到器件的扫描信号有2个状态变化路程：用于指令移入至指令寄存器，或用于数据移入至相应的数据寄存器（该数据寄存器由当前指令确定）。 　　状态图中的每个状态都是TAP控制器进行数据处理所需要的，这些处理包括给引脚施加激励信号、捕获输入数据、装载指令，以及边界

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-13
    • 文件大小：101376
    • 提供者：weixin_38535808

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的微处理器和JTAG总线桥接接口

  2. 数字逻辑设计人员在实现设计目标时有不少工具可用。为适应所需的大量逻辑数和数据率，设计人员可选用FPGA。FPGA在相对小的空间内，以多引脚数封装提供巨大数量的数字逻辑门。 　　　　在印刷电路板(PCB)放置多个多引脚FPGA和其他器件，确保所有互连的完整无损是比较困难的。在制造中用X射线技术可以检验大概的互连问题， 而需要更精确的方法来检测制造、调试和复杂PCB更换的互连问题。 　　一种方法是JTAG(IEEE1149.1)技术。JTAG(联合测试行动组)功能包括基本的输入/输出边界扫描控制

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-19
    • 文件大小：101376
    • 提供者：weixin_38619613

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的集成化逻辑分析工具的组成和设计流程

  2. 集成化逻辑分析工具由3个内核构成，如图1所示，其中ICON、ILA和IBA共3个模块是为了使用ChipScope Pro观察信号而插入的核。 　　图1 3个内核　　　　这些内核的功能和作用如下。  　　（1）ICON Core（Integrated Controller Core）：集成控制器内核，ChipScope Pro内核利用边界扫描接口通过JTAG电缆实现主机通信。ICON模块（核）提供器件内部的JTAG边界扫描接口与多达15个的ILA、ILA／ATC、IBA／OPB、IBA／PL

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-17
    • 文件大小：164864
    • 提供者：weixin_38608055

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的基于EmJTAG的ARM嵌入式系统调试工具

  2. 摘要  设计实现一个适用于基于EmJTAG的ARM嵌入式系统调试工具。它首先定义了一个轻量级的远程调试协议EmRDI，用于PC机与基于EmJTAG的ARM目标板之间的交互过程；然后描述了用意法半导体公司（ST）的ST72651芯片实现一个协议转换器EmJTAG的技术细节。EmJTAG的功能就是将PC机的调试命令转换成目标板的JTAG时序信号，以达到控制PC机和调试目标板的目的。关键词EmRDIEmJTAG边界扫描远程调试协议转换器       引言  ARM嵌入式系统的大致开发流程是： 先在

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-01
    • 文件大小：98304
    • 提供者：weixin_38678406

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的All-In-One 嵌入式系统平台概述

  2. 调试器在进行调试时可以随时查看寄存器、内存、局部变量、全局变量和当前函数的调用层次等信息；前者是利用ARM处理器中的调试模块的功能，通过其JTAG边界扫描口来与仿真器连接。 　　         慧邦All-in-One嵌入式系统平台是慧邦数码核心的技术平台产品。它是以嵌入式操作系统技术为核心，结合ARM的硬件电路解决方案而形成的独立的系统平台，是以向广大用户提供灵活的定制服务为目标的技术产品。它具有便利的二次发软件接口，以此系统平台为基础可迅速完成特定用途的数码信息产品的上层应用软件的开发

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-29
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38647567

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的嵌入式边界扫描

  2. 边界扫描（IEEE1149.1）逐渐成为板级测试方法，新的开发使此技术吸引着嵌入式和系统级测试以及系统内编程操作的注意。随着边界扫描步入其第2个十年，新的使人兴奋的前景即将出现。若用边界扫描做为制造测试和配置，会有不少边界扫描架构嵌入在芯片、板和系统中。如果嵌入硬件和软件边界扫描控制器、测试图形、逻辑可重配置运算等，就可以把这种架构很好地用于产品的整个寿命期。采用嵌入式扫描，可以用Internet在现场对系统加载固件更新。用同样的方法，远程诊断可以确定系统工作出现故障的原因。嵌入式边界扫描系统中

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：82944
    • 提供者：weixin_38535221

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的满足的嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术

  2. 满足的嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术 http:www.guangdongdz.com  2006-06-23   引言：EEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG、1149.1或"dot 1")是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这种方法，本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的，通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入，推

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：99328
    • 提供者：weixin_38656364