引言 　　IEEE 1149.1边界扫描测试标准（通常称为JTAG、1149.1或“dot 1”）是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1（JTAG）标准。为了更好地理解这种方法，本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的，通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入，推动设计向新一代发展。 　　大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1（JTAG）标准。如果系统采用的是复杂FPG