摘要：作为32 位RISC 微处理器主流芯片，ARM 芯片得到长足发展和广泛应用.因而，ARM 芯片的测试需求更加强劲的同时，测试工作量在加大，测试复杂度也在增加.本文给出了基于ARM Cortex-M3 的微处理器测试方法，该方法也可用于类似结构的微处理器测试. 　　0 引言 　　随着半导体技术的发展，集成电路制程工艺从深亚微米发展到纳米级，晶体管集成度的大幅提高使得芯片复杂度增加，单个芯片的功能越来越强.二十世纪90 年代ARM 公司成立于英国剑桥，主要出售芯片设计技术的授权.采用ARM