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搜索资源 - 嵌入式系统/ARM技术中的LMK04000系列产品的相位噪声性能测试
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嵌入式系统/ARM技术中的LMK04000系列产品的相位噪声性能测试
1.0 前言 编写本应用笔记的目的,是为了表现LMK04000系列精 密时钟去抖电路的时钟信号的相位噪声和抖动测量结果, 展示时钟信号输出端的相位噪声与VCXO相位噪声之间的关 系。由于采用了级联的双重PLL架构,LMK04000系列提供 了出色的信号抖动清除功能。图1示出了一个双PLL架构的框 图。该图还画出了一个时钟分配电路,该电路接续在VCO输 出之后。 第一个PLL采用了很窄的环路带宽,以便让外接的VCXO 的频率锁定到输入的参考时钟信号上。极窄的环路带宽可以 抑制参考时钟信
所属分类:
其它
发布日期:2020-11-08
文件大小:40960
提供者:
weixin_38752830