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嵌入式系统测试和测量入门手册
嵌入式系统测试和测量入门手册 嵌入式系统测试和测量入门手册
所属分类:
硬件开发
发布日期:2009-05-08
文件大小:1048576
提供者:
caocwy
嵌入式系统-测试和测量挑战.pdf
泰克 嵌入式系统:测试和测量挑战入门手册
所属分类:
硬件开发
发布日期:2009-07-21
文件大小:1048576
提供者:
juhui_sd
嵌入式系统测试和测量入门手册
工程师面临的关键测试挑战之一是能够采集和监测不同的信号和协议。设计工程师必需能够生成各种信号,测试被测设备(DUT)的极限,确定设计在实际环境中的行为结果。他们需要测试解决方案能够捕获及可视化复现这些信号,以检验信号完整性。他们需要在一条总线上多个数字信号之间的精密定时信息,调试建立时间和保持时间违规。在许多情况下,在硬件工程师和软件工程师合作调试某个问题的根本原因时,他们要求能够查看总线上的信息,不仅包括电气表示,还要包括较高的提取等级,如微处理器的汇编码代码或串行总线协议的解码图。
所属分类:
硬件开发
发布日期:2009-08-20
文件大小:1048576
提供者:
coool29
MTK6225 6226 6235 6253源代码及开发样机
MTK6225 6226 6223 6235 6253手机开发平台资料光盘使用手册 谁要问 当今中国最火爆的电子产业是什么:那毫无疑问是手机产业。当 前世界上所有手机的40%是在中国设计生产的,世界几乎所有大型IT企业都涉足或者准备涉足手机行业,其中包括微软(手机操作系统提供商),intel(手机中央处理器提供商),中 国推出的3G标准之一的TD-SCDMA网络在我国正准备大规模推广,中国拥有世界最大的手机市 场,这一切,都将继续有利的推动手机产业在中国的发展。 所以, 无论您是即将毕业的学生
所属分类:
嵌入式
发布日期:2010-12-10
文件大小:35840
提供者:
yanrongjizi
嵌入式系统测试和测量入门手册
嵌入式系统设计一般使用低速串行总线,如 I2 C, SPI, RS-232, FlexRay, CAN, LIN 和 USB。这些串行总线非 常复杂,给验证和调试带来严峻的挑战。工程师需要集 成了串行触发、协议解码和全方位分析功能的工具。此 外,性能领先的嵌入式设计采用速度更高的串行总线, 如以太网、PCI-Express、SATA 或HDMI。工程师需要 测试仪器和软件提供高速串行数据采集、调试、验证和 一致性测试功能。在许多情况下,并行总线在处理系统 与依赖 DDR 等技术的存储设备之间提
所属分类:
硬件开发
发布日期:2013-10-20
文件大小:1048576
提供者:
dongge_k
嵌入式系统测试和测量入门手册
概括了怎样使用不同测量工具迎接嵌入式系统开 发的挑战。
所属分类:
硬件开发
发布日期:2009-03-12
文件大小:1048576
提供者:
juhui_sd