研究了向列型液晶的相位调制特性，采用平行式向列液晶作为相移器建立了相移剪切电子散斑干涉计量系统。该方法将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中，提高了检测精度；采用相关条纹法求解相位，简化了计算；相移方法简单、可靠。用该系统进行应变场的测量实验，取得了满意的效果。