利用有限元中的“单元生死”技术，通过ANSYS参数化设计语言(APDL)编程研究了长边扫描、短边扫描以及交错扫描方式对成形过程的热力耦合场以及残余应力分布的影响，并详细分析了各种扫描方式下，所选节点温度和热应力随时间的变化规律及残余应力沿各方向的分布规律。在与模拟过程相同条件下，实际成形实验所得结果与模拟结果吻合较好。