计算机层析成像(CL)系统对于扁平状物体的检测具有独特的优势, 几何参数标定是CL系统获得高质量图像的重要步骤。现有CL系统几何参数标定方法仅能标定部分几何参数, 难以一次完成所有几何参数的标定。借鉴计算机断层成像(CT)系统几何参数标定方法, 提出了一种高精度的迭代标定方法, 利用简单体模快速标定CL系统的所有几何参数。对CT系统几何参数标定方法用于CL系统的有效性进行分析, 确定对CT系统几何参数标定方法敏感的CL系统几何参数; 根据CL系统投影几何关系, 构建新的反映CL实际系统与理想系统