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  1. 接口/总线/驱动中的LXI总线B类电压表的设计与实现

  2. 一. 设计过程     前言     早期的GPIB、VXI等技术,由于采用了专用的仪器接口标准进行设计,从而使得从底层的接插件、接口卡、机箱,到完成仪器控制功能的协议软件都是测试领域专有的、定制的,这极大的提高了测试系统的成本,并严重阻碍的测试技术的发展。随后出现的PXI技术,充分利用了现有的计算机总线技术,降低了测试系统的成本,但是,随着PC产业的高速发展,基于计算机接口的测试设备生命周期往往较短。这对于大多需要持续服务数十年的测试系统来说显然是无法接受的。     测试工程师和系统集
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-19
    • 文件大小:200704
    • 提供者:weixin_38544625