使用在质量中心为2.125 GeV的BESIII检测器收集的对应于108 pb-1的综合光度的e + e-碰撞数据的数据样本，我们研究了e + e-→ϕππ过程并进行了搜索 Zs衰减成ϕπ 在ϕπ质谱图中未观察到信号。 确定在90％置信水平下Zs生产的横截面上限。 另外，在2.125 GeV处的e + e-→ϕπ +π-和e + e-→ϕπ0π0的横截面分别测量为（436.2±6.4±30.1）pb和（237.0±8.6±15.4）pb， 第一个不确定性是统计性的，第二个不确定性是系统性的。