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  1. 针对手机RF 电路设计的差分散射参数测试方法

  2. 针对手机RF 电路设计的差分散射参数测试方法

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-07-24
    • 文件大小：293888
    • 提供者：buaa_lbh

  1. 雷永明 RF 讲座 04.射频时域测试原理

  2. 数字信号中的分布参数与集总参数电路的界分 时域看传输线的电压传输过程 时域反射计测试阻抗 散射参量的时域测试 时域测试的误差分析 数字电路串扰时域分析

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2012-08-16
    • 文件大小：384000
    • 提供者：panpan9900

  1. 光学镜头基础知识及测试

  2. 光学镜头基础知识,CCD&CMOS性能对比,相机成像质量主要评测参数,测试卡,图像分析软件,实验方法,干涉衍射三原色散射几种现象

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-10-08
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：qinghai_100

  1. S参数模型.pdf

  2. 参数简介微波系统主要研究信号和能量两大问题：信号问题主要是研究幅频和相频特性；能量问题主要是研究能量如何有效地传输。微波系统是分布参数电路，必须采用场分析法，但场分析法过于复杂，因此需要一种简化的分析方法。微波网络法广泛运用于微波系统的分析，是一种等效电路法，在分析场分布的基础上，用路的方法将微波元件等效为电抗或电阻器件，将实际的导波传输系统等效为传输线，从而将实际的微波系统简化为微波网络，把场的问题转化为路的问题来解决。微波网络理论在低频网络理论的基础上发展起来，低频电路分析是微波电路分析的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-13
    • 文件大小：77824
    • 提供者：weixin_38743602

  1. 基于小角X射线散射构造煤孔隙结构的研究

  2. 为研究不同变形程度构造煤的孔隙结构特征,采用小角X射线散射(SAXS)和低温氮吸附相结合的方法,分析了重庆中梁山南矿不同类型构造煤的孔径、孔体积、比表面积和表面分形维数等参数的变化规律。SAXS研究结果表明,随着煤的变形程度增强,X射线散射强度增大,煤中微孔比例增加,最可几孔径减小,孔隙表面分形维数增大,这与低温氮吸附的结果一致。但由于两种方法的测试原理不同,SAXS所测孔隙比表面积高出低温氮吸附结果 1~2个数量级。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-04-24
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38721652

  1. 变形的非旋转黑洞散射粒子

  2. 我们研究了受测粒子对变形的非旋转黑洞的轴向准正态模态的激发，并且将相关的引力波信号与Schwarzschild黑洞的广义相对论所期望的信号进行了比较。 与标准预测的偏差可通过有效的变形参数进行量化，该参数同时考虑到与Schwarzschild度量和爱因斯坦方程式的偏差。 我们表明，至少在非旋转黑洞的情况下，有可能在致密物体周围测试度量，从某种意义上说，引力波谱的测量可以限制与Schwarzschild解的可能偏差。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-04-08
    • 文件大小：747520
    • 提供者：weixin_38659812

  1. 在COHERENT数据后测试具​​有任意介体质量的大型非标准中微子相互作用

  2. 在存在中微子非标准相互作用（NSI）的情况下，必须考虑从振荡数据推导中微子参数。 特别是，与中微子振荡的标准解决方案一起，另一种称为“ LMA-Dark”的解决方案与全局振荡数据兼容，并且需要θ12>π/ 4和NSI的某种风味模式，且具有与GF相当的有效耦合 。 与传统的期望相反，有一类基于新的U（1）X规范对称性的模型，其质量玻色子的质量数为MeV到10 MeV，可以产生如此大的NSI。 这些模型原则上可以通过相干弹性ν核散射（CEνNS）实验（例如COHERENT）和即将到来的反应堆中

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-03-31
    • 文件大小：673792
    • 提供者：weixin_38545243

  1. 基于人工神经网络的HEMT器件参数提取方法研究

  2. 研究了利用人工神经网络对不同频带、栅宽的砷化镓高电子迁移率晶体管进行散射参数和噪声参数提取，基于两个神经网络分别对两组散射参数和噪声参数进行训练学习，比较不同隐含层和神经元数目得出平均相对误差和均方误差，找到对应散射参数和噪声参数神经网络的最佳的隐含层数和神经元数目是8-8-6和6-4。测试结果表明，散射参数平均相对误差的平均值为2.79%，噪声参数平均相对误差的平均值为2.05%，与常规单个神经网络结构相比，在平均相对误差方面提高了31.3%，表明该模型具备更好的精度和可靠性，十分适用于宽禁带

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-15
    • 文件大小：573440
    • 提供者：weixin_38624183

  1. 电子测量中的OTDR光纤测试法的参数设置

  2. OTDR是光纤测试技术领域中的主要仪表，它被广泛应用于光缆线路的维护、施工之中，可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。OTDR具有测试时间短、测试速度快、测试精度高等优点。     光时域反射仪（OTDR），采用光时域测量的方法，发射一定脉宽的光注入被测光纤，通过检测瑞利散射（Rayleighscattering）及菲涅尔反射（Fresnel reflection）光信号功率沿时间轴的分布，绘制OTDR曲线，来测量各种光缆及接头参数以定位光纤故障点，以及了解光缆损耗分布情

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：77824
    • 提供者：weixin_38522636

  1. 针对手机RF电路设计的差分散射参数测试方法

  2. 针对手机射频(RF)电路设计，本文以对声表滤波器的测试为例探讨了以下三个问题：如何用单端矢量网络分析仪测量差分网络的散射参数；差分网络到单端网络转换时的共模干扰问题；双端网络双共轭匹配问题。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：290816
    • 提供者：weixin_38507121

  1. 电子测量中的基于时域反射和传输的S参数测量方法

  2. 引言 　　在频域、时域、阻抗域三种电学基本特性测试测量仪器中，以阻抗域测试测量仪器所用电路结构最复杂、测试操作最费时间、成套价格最高。目前能够供应GHz级阻抗域测试测量仪器的公司亦为数不多，特别是矢量网络分析仪(VNA)只有安捷伦、安立、罗德施瓦茨等几家公司生产。VNA的最高带宽达到65GHz，前端使用变频器可将带宽扩大至120GHz，成套售价在二十万美元以上。 　　我们知道，任何电子元器件都可用二端或四端网络来表征，所用参数有Z(阻抗)、Y(电导)、H(混合)和S(散射)，由于Z、Y、H参

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-12
    • 文件大小：284672
    • 提供者：weixin_38712548

  1. 电子测量中的矢量网络分析仪PNA-X超越S参数测试

  2. 无论在研发还是在生产制造中，工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中，更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中，需要在保持精度和最大产出率的同时，缩短测试时间和降低测试成本。 　　减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构，它不仅提供卓越的性能和精度，而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数（S参数）的各种测量进行配置。一些内置组件（如第二个信号源和宽带

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-07
    • 文件大小：317440
    • 提供者：weixin_38648037

  1. 电子测量中的网络分析仪测天线S参数应用实例

  2. 1 概述 在微波探测系统中，通常天线都是系统自动控制环路的闭环点。天线作为一个收/发控制系统的重要组成部分，其性能的优劣，将直接影响到全系统的检测能力和探测精度。在实际使用中，对天线的电特性参数及组成部分 的各种微波装置（如高频电缆等）的散射参数，例如天线的匹配特性、天线阻抗、微波装置的反射特性和传输特性参数等都要进行严格的检测。而要准确的对天线及其组成部分微波装置的参数进行测试，采用网络分析仪无疑是最佳的途径。由于篇幅有限，本文只探讨网络分析仪在天线S参数测试方面的应用情况。 2. 天线

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-25
    • 文件大小：142336
    • 提供者：weixin_38545961

  1. RFID技术中的射频(RF)测试的应用

  2. 无论你是利用III-V簇晶圆生产用于手机配件的RF芯片，还是利用硅技术生产高性能模拟电路，在研发和生产中预测最终产品的性能和可靠性，都需要晶圆级RF散射参数（s）的测量。这些测试对DC数据是重要的补充，相对于单纯的DC测试，它用更少的测试却能提供明显更多的信息。实际上，一个两通道的s参数扫描能同时提取阻抗和电容参数，而采用常规DC方法，则需要分开测试，甚至需要单独的结构以分离工艺控制需要的信息。功放RF芯片的功能测试是这种性能的另外一种应用。这些器件非常复杂，然而价格波动大。生产中高频低压的测试

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：51200
    • 提供者：weixin_38687505

  1. 通过三项测量校准对称设备的任意测试夹具

  2. 本文从级联网络关系推导了校准对称设备的微波测试夹具的一般解决方案，并通过三次测量揭示了校准对称设备的任意测试夹具的可能性和条件，该结果小于通过反射线（TRL）方法的测量时间。 测试夹具和嵌入式对称设备的散射参数可以通过测量直通线，直线和对称设备来确定。 此外，通过仿真和测量对该方法进行了分析和验证。 分析表明，所提出的方法适用于确定被测对称设备（DUT）的校准S参数。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-23
    • 文件大小：915456
    • 提供者：weixin_38668776

  1. 相对折射率对前向散射粒度测试的影响

  2. 折射率是基于Mie理论的前向散射法颗粒测量中的重要参数。为了减小颗粒测量误差，在Mie理论、Debye级数展开以及夫琅禾费衍射理论基础上，分析了相对折射率对散射光能分布的影响方式，揭示散射光能分布宽度随相对折射率的变化呈周期振荡特性，并得到该振荡的经验公式；解释了散射光能分布随相对折射率变化的原因，实验验证结果表明，散射光能随相对折射率变化呈周期振荡特性，振荡周期为π，振荡曲线上极小值对应反演结果更接近标称值。因此，在实际测量中，应尽量选择分散介质，使相对折射率对应的散射光能分布宽度处于振荡曲线

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-23
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_38703794

  1. 电吸收调制激光器集成芯片的高频测试

  2. 提出了一种精确测试电吸收调制激光器(EML)集成芯片高频特性的方法。待测芯片制作在带有微带线的热沉上,同时采用光探测器作为光电转换器,二者构成待测双口网络。被测双口网络的一端是共面线,使用微波探针作为测试夹具加载信号,另一端是同轴线,两个测试端口不同,不能采用简单的同轴校准方法校准待测系统。测试过程中采用扩展的开路-短路-负载(OSL)误差校准技术对集成器件的测试夹具微波探针进行校准,扣除了测试中使用的微波探针对集成光源高频特性的影响,同时采用光外差的方法扣除了高速光探测器的频率响应对结果的影响

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-13
    • 文件大小：624640
    • 提供者：weixin_38635449

  1. 前向散射颗粒粒径测量中的多参数正则化算法

  2. 反演算法是光散射颗粒测试技术中的关键问题之一，以Tikhonov正则化方法为代表的单参数正则化算法被广泛应用于激光粒度仪颗粒粒径分布函数(PSD)的反演计算中。该算法的缺点之一是所得到的反演解呈现出振荡特征,并伴随负值。为改善这一状况，提出了一种多参数正则化算法。通过构建一个由多个参数控制的带通滤波函数，分别控制正则化解的振荡程度和解的高度，并对正则化解进行非负约束。模拟计算和实验研究结果表明，对多参数进行优化后能够降低正则化算法带来的振荡和负值。此外，所提出的算法具有较好的多峰识别能力，可实现

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-12
    • 文件大小：11534336
    • 提供者：weixin_38680393

  1. 汤姆孙散射系统中发黑材料的表面散射特性测量

  2. 本文研制一套全自动散射特性测试平台,并使用该测试平台对汤姆孙散射诊断系统中杂散光吸光材料的表面散射特性开展实验测量研究。在1064 nm的波段下,该测试平台对双向反射分布函数的本底噪声水平优于2×10 -5sr -1。利用该测试平台测量反射镜、不锈钢、发黑铝合金和发黑涂层等多种材料的表面散射特性。依据相关测量结果,“科大一环”汤姆孙散射诊断系统采用了Avian Black-S发黑涂料以及Metal Velvet TM发黑铝箔用于吸收杂散光。利用测量结果给出多种材料的ABg模型参数,为杂散光追踪模

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-25
    • 文件大小：7340032
    • 提供者：weixin_38666300

  1. 矢量网络分析仪PNA-X超越S参数测试

  2. 无论在研发还是在生产制造中，工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中，更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中，需要在保持精度和产出率的同时，缩短测试时间和降低测试成本。 　　减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构，它不仅提供卓越的性能和精度，而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数（S参数）的各种测量进行配置。一些内置组件（如第二个信号源和宽带合路

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：457728
    • 提供者：weixin_38606870
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