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搜索资源列表

  1. 数字测试基础(DC,AC,O/S,功能)

  2. 数字测试基础 1． DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称“被测器件”），或者叫UUT （Unit Under Test）。 首先我们来看看关于器件引脚的常识，数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。 信号脚，包括输入、输出、三态和双向四类， ● 输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道；输入管脚感应其上的电压并将它转化 为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。 ● 输出：在芯片内部逻辑和外部环境之间起缓冲

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-08-19
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：aioria0815

  1. 数字小游戏

  2. 利用Swing编程，编写数字测试的一个小游戏。要求根据产生的随机数，通过给定的公式，计算并显示4个数字，然后测试者根据这四个数字寻找规律得出第五个数字，跟我们的公式计算出的第五个数相比，给出读者的第五个数字是否正确数字的提示。

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2008-07-09
    • 文件大小：33792
    • 提供者：dongren

  1. 手写数字测试训练样本

  2. 代码训练数据，《机器学习实战》中第二章手写数字训练样本

  3. 所属分类：C/C++

    • 发布日期：2015-03-07
    • 文件大小：740352
    • 提供者：panan160

  1. 手写数字识别

  2. 课上的作业。 学习数据256*500*10(像素 数据量 10个数字) 测试数据256*200*10 正确率89 比较挫 但好在简单 希望能派上用处

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2015-04-28
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：u012751989

  1. 卷积神经网络手写数字测试程序

  2. 程序是matlab的深度学习工具包，经过自己的一些修改，在自己电脑上可以实测运行，不会报出错误。

  3. 所属分类：教育

    • 发布日期：2016-06-27
    • 文件大小：14680064
    • 提供者：bingbingdian1007

  1. Mnist格式的手写数字测试数据集0~9,650个字符

  2. Mnist格式的手写数字测试数据集0~9,650个字符，数量不是很多。我和小伙伴自己写的，供大家测试使用。书写习惯是中国人的习惯，不是MNIST中那些欧美数字书写方式哈

  3. 所属分类：深度学习

    • 发布日期：2018-04-16
    • 文件大小：450560
    • 提供者：weixin_40920228

  1. 数字测试系统波形格式.docx

  2. 数字测试系统常用向量的几种波形格式，中文版本，方便大家查阅

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2019-08-06
    • 文件大小：306176
    • 提供者：weixin_45497866

  1. 让智慧的翅膀展翅高飞 航空航天测试方案.pdf

  2. 让智慧的翅膀展翅高飞 航空航天测试方案pdf,让智慧的翅膀展翅高飞 航空航天测试方案业务遍布全球, 个性化服务周到便利 穆格的团队遍布全球,通过辛勤的工作为航空航天公司和测试毕竟您能越快完成测试程序和协议,您的整个操作就能更经济 实验窒提供主动及时的服务。分布在全世界26个国家和地区的高效 穆格代表,时刻准备着帮助您实现甚至超越您的航空航天测试 应用需求。 无论是提供一个更好更快速的整套测试方案,还是只是升级到 高性能数字伺服控制器,我们的技术专家都以其灵活高效、无 55年悠久的服务历史背后是一

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-13
    • 文件大小：283648
    • 提供者：weixin_38744435

  1. 手写数字测试图片.zip

  2. 手写数字0-9图片，用于深度学习入门实践项目mnist,训练完模型之后，可用训练的模型预测本图片，尺寸为28*28，灰度图片，有0-910个数字。

  3. 所属分类：深度学习

    • 发布日期：2019-09-03
    • 文件大小：7168
    • 提供者：huangkunjoker

  1. lecun_mnist手写数字测试集和训练集.zip

  2. 来自lecun项目的mnist数据集，用于训练手写数字，训练集有60000个，测试集有10000个，都是csv文件。

  3. 所属分类：互联网

    • 发布日期：2020-07-11
    • 文件大小：13631488
    • 提供者：u010590593

  1. 数字测试式LCD控制驱动电路测试方法

  2. 本文主要介绍了基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的简单测试方法及笔者在实践中总结的一些小技巧。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：129024
    • 提供者：weixin_38701725

  1. 基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法

  2. 随着科技的发展，LCD驱动电路的品种也日新月异，对于这一系列的电路，针对不同的电路性能，其测试方法也各有不同。本文仅对基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法做了简单介绍，并共享了一些笔者在实践中总结的测试小技巧，适用于进行LCD控制驱动电路低成本、高品质的测试。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：131072
    • 提供者：weixin_38618024

  1. 电子测量中的基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（二）

  2. 3 LCD控制驱动电路的测试方法 　　由上面简单列举的LCD控制驱动电路测试时的一些典型问题可以看出，此类电路的测试对测试设备的测试能力提出了很高要求，因此对于LCD控制驱动电路来说，最佳的测试设备非LCD电路专用测试系统莫属，比如全球最大的测试设备商日本爱德万（Advantest）公司的T6371、T6373、ND1、ND2等，2008年泰瑞达（Teradyne）推出的D750Ex,以及目前LCD驱动IC封测厂量产中主要使用的横河电机（Yokoga wa）的TS670及TS6700等。TS6

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：138240
    • 提供者：weixin_38667581

  1. 电子测量中的基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（一）

  2. 摘 要：随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其核心部件--LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的 测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原 因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特 点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。 　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：58368
    • 提供者：weixin_38536841

  1. 数字测试式LCD控制驱动电路测试方法

  2. 随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其核心部件——LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。     1

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：137216
    • 提供者：weixin_38724535

  1. 采用芯片测试的环路滤波器设计

  2. 小数分频频率合成器在测试时必须外接一个环路滤波器电路与压控振荡器才能构成一个完整的锁相环电路。其外围电路中环路滤波器的设计好坏将直接影响到芯片的性能测试。以ADF4153小数分频频率合成器为例，研究了其外围环路滤波器的设计方法，给出了基于芯片测试的环路滤波器设计流程，并进行了验证测试。测试结果表明，该滤波器可满足小数分频频率合成器芯片测试的需要。 　　在进行小数分频频率合成器的芯片测试时，数字部分可以通过常规的数字测试方法即可以实现；而输出射频信号的相位噪声、杂散噪声则需要芯片工作在正常的输出

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：310272
    • 提供者：weixin_38601878

  1. outside:外部数字测试任务-源码

  2. outside:外部数字测试任务

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-17
    • 文件大小：963584
    • 提供者：weixin_42133329

  1. 数字测试式LCD控制驱动电路测试方法

  2. 随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其部件——LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。     1 前言

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：129024
    • 提供者：weixin_38644688

  1. 基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（二）

  2. 3 LCD控制驱动电路的测试方法 　　由上面简单列举的LCD控制驱动电路测试时的一些典型问题可以看出，此类电路的测试对测试设备的测试能力提出了很高要求，因此对于LCD控制驱动电路来说，的测试设备非LCD电路专用测试系统莫属，比如的测试设备商日本爱德万（Advantest）公司的T6371、T6373、ND1、ND2等，2008年泰瑞达（Teradyne）推出的D750Ex,以及目前LCD驱动IC封测厂量产中主要使用的横河电机（Yokoga wa）的TS670及TS6700等。TS670及TS6

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：156672
    • 提供者：weixin_38601215

  1. 基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（一）

  2. 摘 要：随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其部件--LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的 测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原 因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特 点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。 　　1

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：57344
    • 提供者：weixin_38679839
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