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  1. 数字集成电路失效分析方法与技术的研究

  2. 详细讨论了CPU、ATD、RAM、ROM等主模块的原理、结构和测试方式,并且进行了大量的实际失效分析,以典型案例来说明数字集成电路的失效分析方法.

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-02-09
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：wjustc