就像很多其他半导体器件一样，高速模数转换器(ADC)并不能始终像我们期望那样完美运行。它们存在一些固有限制，使其偶尔会产生超出正常功能的罕见转换错误。然而，像测试和测量设备等很多实际采样系统不容许存在高ADC转换误码率。因此，量化高速模数转换误码率(CER)的频率和幅度非常重要，这样工程师才能设计出具有合适预期性能的系统。     高速或GSPS ADC(每秒千兆采样ADC)相对稀疏出现的转换错误不仅造成其难以检测，而且还使测量过程非常耗时。该持续时间通常超出毫秒范围，达到几小时、几天、几周甚