对多量子阱被动锁模半导体激光器的噪声理论进行了系统的分析,并给出了半导体激光器腔内相位随载流子浓度变化的关系。研究表明,被动锁模半导体激光器(MLLDs) 的总噪声主要由散粒噪声、自发辐射放大噪声、频率调制噪声和量子噪声组成,分别由光场的振幅、频率和载流子的相位噪声等所致的结果。