虽然扫描测试数据可以为诊断提供起点，但是隔离故障位置并识别缺陷类型却极为困难。明导资讯(Mentor Graphics)公司发布的YieldAssist诊断工具希望能够简化这一过程。 诊断工具帮助更好识别故障。 IC故障分析专家所从事的工作很值得同情。虽然扫描测试数据可以为诊断提供起点，但是隔离故障位置并识别缺陷类型却极为困难。明导资讯(Mentor Graphics)公司发布的YieldAssist诊断工具希望能够简化这一过程。 在从制造测试中获取门级网表、测试模式集以及故障