利用光学微扫描技术，可在不改变探测器结构的情况下，提高显微热成像系统空间分辨率。但为了获得高质量过采样重构图像，微扫描位置需要标定。基于零点定标，提出一种各点自适应定标的微扫描位置标定方法。模拟实际系统在定标前后的欠采样图像，采用不同重构方法进行仿真对比验证；完成了实际采集的欠采样显微热图像序列的重构对比实验。实验结果表明该方法明显改善了显微热成像系统的过采样重构图像质量，提高了系统空间分辨率。此方法还可以应用在其他光电成像系统中。