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显示/光电技术中的光电P型叉指结构二极管
CMOS光电探测器的响应时间较慢是高速光电接收器单片集成的主要障碍。由于硅对波长肛638 nm吸收深度较深(约10 gm),同时CMOS工艺中源漏注入形成的pn结结深较浅(<1 gm),因此大量的光生载流子是在pn结外的体硅内产生,这些载流子缓慢的扩散运动是影响探测器速率的主要因素,如果能将这些载流子屏蔽掉,就能获得较高的速率。然而,获得高速率的同时,大部分产生在空间电荷区外的载流子对光信号电流没起作用,无疑降低了探测器的量子效率,导致响应度不高。 图1给出了一种基于标准CMOS工艺的叉指
所属分类:
其它
发布日期:2020-11-14
文件大小:61440
提供者:
weixin_38620959