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搜索资源 - 显示/光电技术中的基于LED芯片封装缺陷检测方法研究
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显示/光电技术中的基于LED芯片封装缺陷检测方法研究
LED(Light-emitting diode)由于寿命长、能耗低等优点被广泛地应用于指示、显示等领域。可靠性、稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素。封装工艺是影响LED功能作用的主要因素之一,封装工艺关键工序有装架、压焊、封装。由于封装工艺本身的原因,导致LED封装过程中存在诸多缺陷(如重复焊接、芯片电极氧化等),统计数据显示:焊接系统的失效占整个半导体失效模式的比例是25%~30%,在国内[3],由于受到设备和产量的双重限制,多数生产厂家采用人工焊接的方法,焊接系统不合格
所属分类:
其它
发布日期:2020-11-06
文件大小:265216
提供者:
weixin_38612304