您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  

搜索资源列表

  1. 显示/光电技术中的LED芯片/器件封装缺陷的非接触检测技术

  2. 摘要:为了在大批量封装生产线上对LED的封装质量进行实时检测,利用LED具有与PD类似的光伏效应的特点,导出了LED芯片/器件封装质量与光生电流之间的关系,并根据LED封装工艺过程的特点,研制了LED封装质量非接触检测实验平台,完成了芯片、固晶、焊接质量影响的模拟实验,证实了方法的可行性,并开发出了实际样机。   1、引言   近些年来,随着制造成本的下降和发光效率、光衰等技术瓶颈的突破,我国的LED照明产业进入了加速发展阶段,应用市场迅速增长,这导致了LED封装产品的巨大市场,催生出了成千
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-09
    • 文件大小:287744
    • 提供者:weixin_38735101