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搜索资源 - 显示/光电技术中的SJ/T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法
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显示/光电技术中的SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
1.范围 本标准规定了半导体发光二极管芯片(以下简称芯片)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试就去。 2.规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然后,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适合于本标准。 GB/T 5698-2001 颜色术语 GB/T 11499-200
所属分类:
其它
发布日期:2020-10-23
文件大小:33792
提供者:
weixin_38719719