随着智能制造过程对检测分辨率、精度、速度的要求越来越高，利用相机直接光学成像方式构成的简单AOI 系统往往无法满足制造过程的高要求。因为一方面几何光学直接成像的分辨率受镜头分辨率的限制，光学显微成像最高分辨率只有四分之一照明光源的波长大小，即约150 μm；另一面许多被检测特征不是简单用相机直接成像能够感知和探测的，必须选择合理的检测方法。常用的AOI 检测方法有以下方式。