人们不仅要检测出存储区中的差错，还应改正它们，于是就出现了差错校正码，如图1所示。由于用编程来计算这些编码差错的花费很大，且仅能用来纠正低差错率的编码，再用它来保护智能卡存储器就更成问题了。而智能卡中的EEPROM存储器是面向页面的，整个页面常常会由于一个差错而失效，只有能纠正成簇的差错方法才有意义。于是，就产生了新的差错校正技术。 　　图1  差错校正码的基本应用原理 　　最简单的技术方案是多重存储数据，物理上分开存储页面并在读出数据时采用多数表决法。通常用三重存储，采用3中取2表决。

循环冗余校验法CRC（（Jyclic Redundancy Check）也来自数据通信的领域，但明显地优于XOR法。然而，CRC校验和也还仅仅是差错检测码而不能用于差错校正，CRC法已经在数据传输协议中使用很久了，诸如［Xmodem,Zmodem和Kermit］①，并广泛用于以硬件实现的硬盘驱动控制器，它立足于CC11T V.41的建议。 　　CRC校验和用一个16位的循环反馈移位寄存器产生，反馈由生成多项式确定。用数学的语言来说，被校验的数据表示为被生成多项式除的大数字，其余数为校验和。这种

当数据被传送或存储时，有可能会检测到数据的任何改变，特别是所存储的程序必须防止讹误出现，因为程序代码单独一位的改变将会破坏程序或者改变其执行直至所需的功能不再能使用的程度。智能卡中所用的EEPROM对外界的影响特别敏感，例如热或电压波动。因此，执行和安全有关的部分必须加以保护，使得那些非期待的改变能被操作系统检测出来并避免它们的负面影响。 　　如果是敏感的文件内容，例如程序代码、密钥、访问条件、指针结构和诸如此类的信息必须给以保护以防止改变。差错检测码EDC（Error Detection C