据报道，在6 K下，Al-.GaN / GaN异质结构中的二维电子气（2DEG）漂移引起的宽带太赫兹（THz）发射。 该器件根据史密斯-珀塞尔效应和2DEG中“浅水”等离子体的不稳定性机理设计为THz等离子体激元发射体。 由于未观察到电子密度依赖性等离子体激元模式的特征，因此排除了等离子体激元激发。 相反，发现观察到的太赫兹发射来自加热的晶格和/或热电子。 考虑到空气中的THz吸收和Fabry-Pérot干扰，模拟了热电子的发射光谱，与实验非常吻合。 已经证实，在强平面内电场驱动的类似设备中，不