介绍了一种标准芯片单元可连通性的检测方法，可以有效检测标准芯片单元的可连通性，在布局布线阶段之前，改进标准单元的版图，或者增加布局布线的约束条件，从而保证标准芯片单元的设计对布局布线的友好性。通过对标准芯片单元的检测和改进，可以有效提高芯片的整体可连通性，从而节约布局布线阶段的工作时间，减少开发周期，提高芯片良率。本方法可以实现标准芯片单元库的全覆盖检测，通过优化算法，可以在尽可能减少芯片测试工作量的前提下，实现90%以上的随机场景再现。通过在不同技术节点标准芯片单元检测中的应用，有效地捕获了标