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  1. 单片机应用技术选编（7）

  2. 内容简介 　　 《单片机应用技术选编》(7) 选编了1998年国内50种科技期刊中有关单片机开发应用的文 章共510篇，其中全文编入的有113篇，摘要编入的397篇。全书共分八章，即单片机综合 应用技术；智能仪表与测试技术；网络、通信与数据传输；可靠性与抗干扰技术；控制系统 与功率接口技术；电源技术；实用设计；文章摘要。 　　 本书具有重要实用价值，书中介绍的新技术、新器件以及单片机应用系统的软、硬件资 料有助于减少产品研制过程中的重复性劳动，提高单片机应用技术水平，是从事单片机应用 开发技

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-05-19
    • 文件大小：13631488
    • 提供者：zgraeae

  1. NDAM-3402 通用I/O模块用户手册.pdf

  2. NDAM-3402 通用I/O模块用户手册pdf,NDAM-3402 是通用型的I/O 模块，集成了4 路差分或8 路单端模拟量采集、2 路模拟量输出、2 路数字量采集、2 路数字量输出功能。NDAM-3402 的模拟输入通道可配置为4 路差分或8 路单端输入，各输入通道可以接收±10v 或±20mA 信号，分辨率为16bit，采集精度优于满量程的0.02%，采样速率达800 次/s（总共），足以胜任工业现场中通用电压、电流控制信号的采集。其模拟输出为2 通道，分辨率为12bit，各通道可单独配

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-20
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38743737

  1. 模拟技术中的高分辨率ADC简介

  2. 设计人员进行工业或数据采集项目设计时，很可能会遇到下面所述的一些问题： 　　● 对极宽动态范围内的输入信号进行数字化处理，例如环境声压计要能在60dB至80dB范围内检测信号。 　　● 适应不同来源且信号范围截然不同的信号。 　　● 解析某一确定值的上下微小变化，旨在扩展以该点为中心的范围。 　　如果使用相对较低分辨率的ADC，如10位有效分辨率，高电平信号的分辨率可能接近10位。然而，对于低电平信号，如果小于满量程的10%，其有效分辨率可能不超过6或7位。因此在很多情况下，对于精度只有

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：199680
    • 提供者：weixin_38569109

  1. 模拟技术中的ADC输入噪声面面观——噪声是利还是弊？

  2. 简介 　　所有模数转换器（ADC）都有一定量的"折合到输入端噪声",可以将其模拟为与无噪声ADC输入串联的噪声源。折合到输入端噪声与量化噪声不同，后者仅在ADC处理交流信号时出现。多数情况下，输入噪声越低越好，但在某些情况下，输入噪声实际上有助于实现更高的分辨率。这似乎毫无道理，不过继续阅读本指南，就会明白为什么有些噪声是好的噪声。 　　折合到输入端噪声（代码跃迁噪声） 　　实际的ADC在许多方面与理想的ADC有偏差。折合到输入端的噪声肯定不是理想情况下会出现的，它对ADC整体传递函数的影

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：633856
    • 提供者：weixin_38589795

  1. 过采样技术提高ADXL345输出分辨率

  2. 简介 　　ADI公司的ADXL345三轴加速度计包括一个数字接口和内置模数转换器(ADC)。ADXL345在所有g范围内(±2g、±4g、±8g和±16g)具有3.9 mg/LSB的高分辨率，适合大多数应用。 　　在需要更高分辨率的应用中,可使用过采样技术来提高ADXL345的分辨率。此应用笔记说明如何利用先进先出(FIFO)缓冲器提高ADXL345的分辨率。 　　过采样原理 　　对来自加速度计的加速度信号进行数字信号处理的第一步是模数转换。对于具有模拟输出的加速度计，加速度计的信号通过

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-04
    • 文件大小：230400
    • 提供者：weixin_38631197

  1. 模拟技术中的交会图发生器加快模数转换器评估

  2. 简介 　　模数转换器(ADC)的测试过程不但难度大，而且耗费时间。本文描述的交会图发生器提供了一种快速、低成本的ADC评估方式。 　　ADC及其测试 　　模数转换器为模拟输入电压的每个离散值生成一个数字码。数字码的数量为分辨率的函数。例如，8位器件有256个码。分辨率等于满量程模拟电压的1/256。12位转换器有4096个码，分辨率可达满量程电压的1/4096。数字码的数量可以表示为2n，其中，n = 位数。 　　测试ADC并非易事。现代高分辨率器件对测量设备的速度和精度提出了极高要求。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-04
    • 文件大小：195584
    • 提供者：weixin_38706747