A/D转换器的量化噪声、丢失位、谐波失真以及其他非线性失真特性都可以通过分析转换器输出的频谱分量来判定。 　　确定由上述这些非线性特性所引起的转换器性能的下降并不困难，因为这些都呈现为A/D转换器的输出噪声中的一些杂散频谱分量以及背景噪声的增加。传统的测量方法是将模拟的正弦电压加到A/D转换器的输入端，然后测量转换器的数字化时域输出采样的频谱。 　　可以利用FFT来计算A/D转换器输出采样的频谱，但是为了改善频谱测量的灵敏度，必须将FFT频谱泄漏减到最小。但对于高性能的A/D转换器测试，传统

A/D转换器的量化噪声、丢失位、谐波失真以及其他非线性失真特性都可以通过分析转换器输出的频谱分量来判定。 　　确定由上述这些非线性特性所引起的转换器性能的下降并不困难，因为这些都呈现为A/D转换器的输出噪声中的一些杂散频谱分量以及背景噪声的增加。传统的测量方法是将模拟的正弦电压加到A/D转换器的输入端，然后测量转换器的数字化时域输出采样的频谱。 　　可以利用FFT来计算A/D转换器输出采样的频谱，但是为了改善频谱测量的灵敏度，必须将FFT频谱泄漏减到。但对于高性能的A/D转换器测试，传统的时