提出了一种新的多维适应度函数离散粒子群优化算法，以优化模拟测试点的选择。 所提出的方法利用故障隔离率和测试点数来制定多维适合度函数以搜索全局最小测试点集，并且使用精英集来获得上述方法中的多个可能的最佳解决方案。 通过用于验证其他方法以获得最佳测试点的相同实验证明了该方法的效率。 结果表明，本文提出的算法不仅降低了计算复杂度，而且缩短了时间消耗。 对于大规模模拟电路特别有用。 ？ 2006 IEEE。