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  1. 嵌入式系统/ARM技术中的浅谈单片机系统与掉电保护电路的可靠性提高方案

  2. 1 问题的提出   在以单片机为核心的智能仪表及过程控制系统中常常需要长时间保存实时参数。通常可采用E2PROM、FLASH MEMORY以及以随机存贮器为基础内置电池的非易失芯片来实现。E2PROM、 FLASHMEMORY属于可在线修改的ROM器件,它解决了应用系统中实时参数掉电保存的难题,但这类芯片写入速度慢(ms级),擦写次数有限(万次级),有些器件擦写次数虽达百万次,对某些应用系统而言,其写入次数仍然是有限的。因此这类芯片只能用在需要保护的数据量小且写入不频繁的系统中。对那些需要大容量
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-23
    • 文件大小:153600
    • 提供者:weixin_38620099
  1. 浅谈单片机系统与掉电保护电路的可靠性提高方案

  2. 对于这种单片机复位电平与掉电保护电平不一致而影响系统可靠性的问题,本文提出用微处理器监控电路使单片机复位与掉电保护联动的解决方案。RAM在单片机复位时处于保护状态,工作时正常存取,从而有效地解决前述问题。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-22
    • 文件大小:230400
    • 提供者:weixin_38548704