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  1. 基于单片机的复杂工件几何参数的测控系统设计

  2. 此测控系统在基于单片机基础上，对测量复杂工件的几何参数的测量仪器进行控制，在此系统控制下，可在工件一次安装下自动测量工件的多项几何参数，测量极限误差远小于被测几何参数公差的1/10，测量一件工件只需40余秒。文中简述了测控系统的结构、工作原理。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-06-29
    • 文件大小：231424
    • 提供者：sibo080302