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搜索资源列表

  1. VLSI测试和可测试性设计

  2. 测试矢量生成方法 可测试性技术 可测试性包括可控制性（controllability）和可观察性（observability）两种特性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2011-01-18
    • 文件大小：147456
    • 提供者：gaolicai

  1. CPU可测试性设计 资料

  2. CPU可测试性设计 CPU可测试性设计 CPU可测试性设计

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2011-09-04
    • 文件大小：187392
    • 提供者：wdzyzh

  1. 软件可测试性pdf

  2. 质量。缺陷。可测试性。 主要介绍以下相关内容： 1、测试驱动开发（TDO）; 2、代码的可测试性； 3、设计的可测试性； 4、需求的可测试性； 5、软件可测试性框架

  3. 所属分类：软件测试

    • 发布日期：2011-10-17
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：Landicorp

  1. 基于SOC架构的可测试性设计策略的研究

  2. 基于SOC架构的可测试性设计策略的研究基于SOC架构的可测试性设计策略的研究

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-06-19
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：xiaoshananha

  1. 单元测试可测试性-编写可测试性代码

  2. google 如何编写可测试性代码！ 单元测试可测试性

  3. 所属分类：软件测试

    • 发布日期：2014-05-20
    • 文件大小：953344
    • 提供者：weblogicserver

  1. 软件可测试性需求

  2. 软件可测试性需求文档集锦，全面描述了软件可测试性需求的范围、定义、流程等。

  3. 所属分类：软件测试

    • 发布日期：2015-07-06
    • 文件大小：141312
    • 提供者：qq_27934941

  1. ASIC可测试性设计技术

  2. 详细介绍了专用集成电路（ASIC）中的可测试性设计技术

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2017-12-13
    • 文件大小：952320
    • 提供者：qq_17616613

  1. 测试性与诊断课件

  2. “电子系统故障诊断与测试性技术”是一门综合性课程， 涉及到电子系统故障模型、诊断推理、测试性分析与设计 等多方面专业知识。学习本课程，使学生掌握常用电子元 器件故障特性，电路测试常用技术、基于模型与数据驱动 的故障诊断推理算法，以及电子系统测试性建模、分析与 设计技术。为测试计量技术及仪器专业的硕士、博士生从 事相关研究方向打下良好的基础。。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2018-05-16
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：gaozai168

  1. 面向飞机系统诊断排故的测试性建模分析方法研究与实现

  2. 面向飞机系统诊断排故的测试性建模分析方法研究与实现，苏艳，张蓉，为分析与验证飞机系统诊断排故能力，提高诊断模型的准确性与完备性，应用面向对象思想和多信号流模型思想，研究了基于系统功能层

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-02-11
    • 文件大小：495616
    • 提供者：weixin_38517728

  1. 经硬件仿真验证的可测试性设计 (DFT)

  2. 最近的统计数据表明：制造完成后，测试芯片是否存在制造缺陷（与不存在设计缺陷相比）的成本已增至制造成本的 40%。以上诸多因素推动了电子行业能够想方设法在设计阶段就将可测试性置入芯片，从而降低测试成本。该方法称为可测试性设计 (DFT)本文为大家介绍一下硬件仿真验证的可测试性设计。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-21
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38616120

  1. 基于FPGA系统易测试性的研究

  2. 现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛，因此FPGA易测试性就变得很重要。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-02
    • 文件大小：111616
    • 提供者：weixin_38551070

  1. 测试性压缩工具.zip

  2. 基于Huffman编码思路的一个测试性压缩工具，但是由于个人水平原因（浅学的业余爱好者），并没有利用到Huffman编码的树状结构特点。另，由于快开学了......so，bug还没来得及修复，开学后有时间我会再打磨一下，另，本源码注释没怎么写。UI采用的是扁平化、暗系风格。

  3. 所属分类：VB

    • 发布日期：2020-09-10
    • 文件大小：397312
    • 提供者：baidu_40462083

  1. 电子测量中的一种提高遥测信号处理器测试性方法

  2. 可测试性定义为：产品能及时准确地确定其状态，隔离其内部故障的设计特性，以提高产品可测试性为目的而进行的设计被称为可测试性设计。可测试性是同可靠性、维修性相并列的一门新型学科，其发展和应用对于提高产品的质量，降低产品的全寿命周期费用具有重要意义。随着集成电路设计方法与工艺技术的不断进步，集成电路的可测性已经成为提高产品可靠性和成品率的重要因素。文中针对遥测产品中信号处理器的设计原理，通过增加BIT以提高信号处理器的测试覆盖率。     1 信号处理器简介     硬件电路软件化是电路设计的发展

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：240640
    • 提供者：weixin_38602563

  1. 电路板制板可测试性技术分析

  2. 电路板制板可测试性的定义可简要解释为：电路板测试工程师在检测某种元件的特性时应该尽可能使用最简单的方法来测试，以确定该元件能是否到达预期的功能需求。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：46080
    • 提供者：weixin_38504417

  1. 通信与网络中的基于贝叶斯网络的复杂装备测试性评估

  2. 摘 要: 针对关联模型在复杂装备测试性评估中对不确定问题描述与分析的缺陷, 提出了基于贝叶斯网络的测试性评估方法。首先建立贝叶斯网络测试性评估模型, 以有向边表述故障模式与测试信号之间的因果关系, 利用条件概率描述系统的不确定信息。然后, 将测试准备和执行时间引入贝叶斯网络, 使基于贝叶斯网络的测试性*估与故障检测隔离时间相关, 使测试性评估结果更加全面、客观。最后通过实例分析验证了方法的有效性。　　你所查询《基于贝叶斯网络的复杂装备测试性评估》提供Acrobat PDF格式：　　/基于贝叶斯网

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-11
    • 文件大小：29696
    • 提供者：weixin_38584058

  1. PCB技术中的电路板改板设计中的可测试性技术

  2. 电路板制板可测试性的定义可简要解释为：电路板测试工程师在检测某种元件的特性时应该尽可能使用最简单的方法来测试，以确定该元件能是否到达预期的功能需求。进一步含义即： 　　1 检测产品是否符合技术规范的方法简单化到什么程度？ 　　2 编制测试程序能快到什么程度？ 　　3 发现产品故障全面化到什么程度？ 　　4 接入测试点的方法简单化到什么程度？ 　　过去，若某一产品在上一测试点不能测试，那么这个问题就被简单地推移到直一个测试点上去。如果产品缺陷在生产测试中不能发现，则此缺陷的识别与诊断也会

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-06
    • 文件大小：50176
    • 提供者：weixin_38563525

  1. PCB技术中的电路板设计可测试性技术

  2. 电路板制板可测试性的定义可简要解释为：电路板测试工程师在检测某种元件的特性时应该尽可能使用最简单的方法来测试，以确定该元件能是否到达预期的功能需求。进一步含义即： 　　1 检测产品是否符合技术规范的方法简单化到什么程度？ 　　2 编制测试程序能快到什么程度？ 　　3 发现产品故障全面化到什么程度？ 　　4 接入测试点的方法简单化到什么程度？ 　　过去，若某一产品在上一测试点不能测试，那么这个问题就被简单地推移到直一个测试点上去。如果产品缺陷在生产测试中不能发现，则此缺陷的识别与诊断也会

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-06
    • 文件大小：50176
    • 提供者：weixin_38673798

  1. EDA/PLD中的基于FPGA系统易测试性的研究

  2. 引 言 　　现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛，因此FPGA易测试性就变得很重要。要获得的FPGA内部信号十分有限、FPGA封装和印刷电路板(PCB)电气噪声，这一切使得设计调试和检验变成设计中最困难的一个流程。另一方面，当前几乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的总线，除了提供高速并行总线接口外，正迅速向高速串行接口的方向发展，FPGA也不例外。每一条物理链路的速度从600 Mbps到10 Gbps，高速I／O的测试和验证更成为传统专

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-07
    • 文件大小：153600
    • 提供者：weixin_38502722

  1. 国科大 VLSI测试与可测试性 2020 期末试题

  2. 国科大 VLSI测试与可测试性 2020 期末试题

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2020-12-19
    • 文件大小：33792
    • 提供者：qq_39021670

  1. 软件测试工具中可测试性的具体体现

  2. 软件测试工具中可测试性的具体体现一.功能测试1.安装测试：1)安装过程中对于缺省安装目录及任意指定的安装目录，是否都能正确安装；2)若是选择安装，查看能否实现其相应的功能；3)在所有能中途退出安装的位置退出安装程序后，验证此程序并未安装软件测试工具中可测试性的具体体现一.功能测试1.安装测试：1)安装过程中对于缺省安装目录及任意指定的安装目录，是否都能正确安装；2)若是选择安装，查看能否实现其相应的功能；3)在所有能中途退出安装的位置退出安装程序后，验证此程序并未安装成功（没有程序组及程序项产生

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-23
    • 文件大小：92160
    • 提供者：weixin_38731075
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