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搜索资源列表

  1. IC测试原理_芯片测试原理

  2. IC测试原理_芯片测试原理,pdf格式的

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-06-09
    • 文件大小：254976
    • 提供者：xinxippt2010

  1. 短信猫测试软件--可以测试芯片型号

  2. 短信猫测试软件 快速测试短信猫的芯片型号,收发短信情况

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-09-20
    • 文件大小：274432
    • 提供者：reboot1

  1. U盘测试工具集，在网上下载整理，好用

  2. U盘 扩容检测 速度测试 芯片识别 ，我都是用过，很好用的。不妨一试拉

  3. 所属分类：Microsoft

    • 发布日期：2011-04-11
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：nihongyin

  1. nrf24l01测试程序

  2. 仅仅只是测试芯片的好坏，基于51单片机，led灯显示

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2011-05-24
    • 文件大小：10240
    • 提供者：zjx198974002

  1. u盘维护工具包，u盘产量，升级工具

  2. u盘产量，升级工具，测试芯片，查询u盘升级还是正品的

  3. 所属分类：系统安全

    • 发布日期：2011-06-30
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：sarsanbiz

  1. 简单方便的触摸芯片测试方法

  2. 详细描述触摸芯片测试方法，简单，方便，以便测试芯片的可靠性

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2011-07-15
    • 文件大小：32768
    • 提供者：guoguo198034

  1. 多功能数字集成电路芯片测试仪

  2. 可以测试大多数74系列芯片，12864显示，可以测试芯片通道好坏情况，在自己的开发板上调试通过，有注释。

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2012-07-15
    • 文件大小：93184
    • 提供者：paulywx

  1. 芯片精灵2.3

  2. 芯片精灵2.3，大家看看

  3. 所属分类：其它

  1. PCap01电容测试芯片中文技术手册.pdf

  2. PCap01电容测试芯片中文技术手册是从英文版数据手册翻译过来的，如果你也在做PCAP01 相关项目。

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2019-08-02
    • 文件大小：16777216
    • 提供者：weixin_44407238

  1. 无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究.pdf

  2. 提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法。该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口 特性阻抗相同的特性，利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数，然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗，进而计算标签芯片的灵敏度。利用该方法对NXPLG2XM芯片和Impinj—Monza3芯片在800-1000 MHz频段内灵敏度进行测试，并将测试结果与datasheet进行对照，分析误差产生的原因，最终证明此方法的准确性。该测试方法采用常规仪器对800-1000 MHz频段内灵敏度进行测

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2020-01-11
    • 文件大小：288768
    • 提供者：qs_yang

  1. 经硬件仿真验证的可测试性设计 (DFT)

  2. 最近的统计数据表明：制造完成后，测试芯片是否存在制造缺陷（与不存在设计缺陷相比）的成本已增至制造成本的 40%。以上诸多因素推动了电子行业能够想方设法在设计阶段就将可测试性置入芯片，从而降低测试成本。该方法称为可测试性设计 (DFT)本文为大家介绍一下硬件仿真验证的可测试性设计。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-21
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38616120

  1. TD-LTE测试芯片陷争议：单模芯被指无实际市场

  2. 新浪科技讯8月22日消息，在中国移动TD-LTE技术规模试验热火朝天之际，由于TD-LTE终端芯片的厂商越来越多，进...

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：57344
    • 提供者：weixin_38644168

  1. 电子测量中的基于数字测试仪下的参数测试单元的设计

  2. 随着电子技术的迅速发展，数字集成电路得到了广泛的应用，数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的，各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来。 　　整个数字测试仪通常包含了五大部件：电源模块、通信模块、参数测量单元、数字测量单元和主控制模块。其中，参数测量单元和数字测量单元是整个数字测量仪的核心部件，参数测量单元直接决定着整个系统测试仪的模拟参数测量精度和应用范围。因此，设计出具备高精度、高速度的参数

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-10
    • 文件大小：195584
    • 提供者：weixin_38658086

  1. 智能卡的测试模块

  2. 作为生产步骤：切割晶圆片、安装和压焊芯片、并将芯片包封在模块内，约有3%～7%的管芯将变得不能使用。于是，通常在模块被封装和发货之前要执行另外的测试。对于这一测试，每一模块必须经模块正面的触点平面连接到测试器上。测试器要做的第1件事就是熔断多晶硅保险丝，并在EEPROM的特殊的地址中写入一特别的字节值，从而使微控制器从测试模式转换至用户模式。此后，如果不首先满足规定的安全条件，就不再可能从外部对存储器进行读写访问了。 　　其次，用测试计算机执行-ISO活化过程，并试图检出一有效之ATR。如果这

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-14
    • 文件大小：38912
    • 提供者：weixin_38700790

  1. 通信与网络中的Intel开发WiMax、Wi-Fi自动切换的芯片

  2. Intel开发了一款可用于处理WiFi, WiMax以及DVB-H数字电视功能的软件无线电测试芯片。 　　Intel开发多功能软件无线电测试芯片 　　这块芯片集成了多项功能，可以让笔记本电脑等无线设备从家中的WiFi网络自动切换到WiMax网络，并且可以在移动的过程中访问数字电视。 　　无线通信实验室的系统设计师Jeff Hoffman表示：“因为存在着太多的无线信号，人们在连接无线网络的时候总是不断地尝试切换不同的信号源。” 　　下周将要送去流片的芯片采用了9个不同组合的处理单元以便处理三种协

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：43008
    • 提供者：weixin_38653155

  1. 电子测量中的创意电子推出90纳米ARM926EJ测试芯片UTP0010A

  2. 创意电子(Global Unichip，GUC)推出90纳米ARM926EJ硬核(hard-macro)及其测试芯片(testchip)UTP0010A，为客户大幅缩短系统设计的建构时间，并为ARM核心整合的过程降低许多风险。 　　UTP0010A以可合成的ARM926EJ-S核心码(synthesizable core)设计而成，协助客户在发展90纳米系统级芯片(SoC)的相关产品，譬如低耗电手持装置、视频编码/解码及网络通讯应用等方面，达到缩短流片时间(Time to tapeout)和

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：49152
    • 提供者：weixin_38654589

  1. 英飞凌推出测试芯片消除VIA缺陷

  2. 英飞凌推出测试芯片消除VIA缺陷 提高产品的可靠性 　　英飞凌公司在全球范围内率先推出一种全新方法，该方法可消除高度集成半导体电路制造过程中引起产品缺陷的一个最常见原因：过孔电气故障。“过孔（VIA）”表示“垂直互连”，指集成电路金属层之间的连接。英飞凌与雷根斯堡应用科学大学（FH Regensburg）合作开发出该全新方法。该合作项目是英飞凌Automotive ExcellenceTM计划的一部分，该计划于三年前启动，旨在满足汽车行业苛刻的质量要求。 　　英飞凌汽车、工业和多元化电子业务部质

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-29
    • 文件大小：67584
    • 提供者：weixin_38693589

  1. 具有简单嵌入式电路的配电网络中射频波芯片到板传输的测量方法

  2. 芯片到板模型对于预测电子系统的电磁辐射（EME）并检查其在设计初期是否满足排放标准非常重要。 本文提出了通过直接测量嵌入式电路的芯片与板的传输比来建立芯片与板的模型。 嵌入式电路不会引起片上配电网络的修改。 仅一个信号引脚被添加到芯片上。 它以最大的方式保留了芯片和封装的原始物理结构。 该测量方法通过晶体管级仿真进行了验证，并通过测试芯片进行了演示。 使用测得的传输比，可以建立芯片到板的模型，该模型具有更高的精度，尤其是在高频范围内，可用于电子系统的EME仿真。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-12
    • 文件大小：379904
    • 提供者：weixin_38520258

  1.  基于1553B总线的BU-61580芯片测试系统的设计与实现

  2. BU-61580芯片测试系统用于检测DDC公司的BU-61580系列芯片的总线协议功能和电气特性，筛选失效芯片，并具备芯片接口时序调整功能，可检验芯片在不同的接口环境和工作方式下的特殊表现。以Windows XP为开发平台，标准VC++为开发工具，针对该芯片设计一套测试系统。PCI总线接口的专用芯片测试卡能够方便的插入待测试的芯片，与之相应的测试系统能够设置芯片的访问时序，测试芯片工作于不同模式下的状态。实际应用表明，该测试系统具有测试界面灵活、简单、准确的特点，满足了用户的要求。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-30
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38719719

  1. 基于数字测试仪下的参数测试单元的设计

  2. 随着电子技术的迅速发展，数字集成电路得到了广泛的应用，数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的，各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来。 　　整个数字测试仪通常包含了五大部件：电源模块、通信模块、参数测量单元、数字测量单元和主控制模块。其中，参数测量单元和数字测量单元是整个数字测量仪的部件，参数测量单元直接决定着整个系统测试仪的模拟参数测量精度和应用范围。因此，设计出具备高精度、高速度的参数测量单

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：254976
    • 提供者：weixin_38736721
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