Czerny-Turner 结构成像光谱仪像散校正会改变系统焦距，导致图像子午方向和弧矢方向放大率存在差异。分析了两种Czerny-Turner结构成像光谱仪像散校正光路（柱面镜和超环面）像散校正原理，由此提出并推导出两类光谱图像变形校正公式和方法，并总结二者的共同特征。通过理论计算、光线追迹仿真和实际光谱成像测量验证了图像变形校正方法的正确性。同时，该图像校正方法对其他准直光工作条件下离轴结构色散型成像光谱仪图像变形校正研究有借鉴意义。