基于1/4波片法，提出了相位延迟的二维分布测试方法。完成了液晶光楔及光寻址液晶空间光调制器（SLM）的二维相位分布测试，得到了两种液晶电光器件的二维相位分布特性的测试结果。编写程序计算得到液晶光楔二维相位分布特性曲线，结果表明：随着测试电压的增大，液晶光楔的顶角θ增大。同理，编写程序计算作出SLM的二维相位等高线图并分析二维相位分布规律。