集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。
1 IC 测试
1.1 IC测试原理
IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断D
自1964年C. Κ. N. Patel发现CO2分子的振-转能级跃迁的激光振荡作用以来，CO2激光器的最大输出功率每年有大幅度的增长，现在它和带多级放大器的玻璃激光器一起，作为大功率激光装置占据了一个领域。CO2激光器（1)输出功率极高；（2)激光效率约20%以上，在高功率激光器中是最高的；（3)振荡波长（10.6微米、9.6微米)正处于大气窗口，空中传输损失小；(4)因为是长波长，所以光学元件和精度要求不严；（5)因为是气体激光器，所以不存在伴随着输出功率提高而产生的激光介质的破坏;（6)对
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