上海联影关于CT重建图像环状伪影的去除方法申请的专利

探测器探元响应的不一致性导致计算机层析成像(CT)图像产生环状伪影, 使得像质下降, 影响了缺陷的判读以及图像的后续处理与量化分析。提出了两种CT成像环状伪影校正方法：基于特征识别的校正方法和基于B样条曲线拟合的校正方法。前者针对单个独立探元或者少数几个相邻探元存在突出响应不一致的情况。该方法首先识别出响应不一致探元的位置, 然后在该位置执行局部中值滤波以消除正弦图中的竖直条纹。后者针对多个连续探元同时存在微小响应不一致的情况。该方法用B样条曲线拟合的方法确定各个探元的归一化增益系数, 进而对探

为了去除平板探测器中坏点和响应不一致探元引起的环状伪影对X射线计算机断层成像(CT)质量的影响，利用探元响应与管电流的线性相关关系，提出了一种基于探测器校正的环状伪影去除方法。检测出不同管电流下响应恒定的探元后，分别计算每个探元响应与管电流的相关系数，并检测出响应随机变化和迅速达到最大的探元，将检测出的探元记入坏点模板并进行校正。以单个管电流下所有探元响应的均值为基准，计算同一组管电流下各探元响应曲线方程与基准曲线方程的转化关系，得到探测器的一致性校正参数矩阵。依据坏点模板和一致性校正参数对各探