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用于电子断层扫描中全自动对准的快速基准标记跟踪模型
动机:由于对子图平均的高要求和大视野电子显微镜的快速发展,自动对准,尤其是基于基准标记的对准已变得越来越重要。 在对齐步骤中,基准标记跟踪是决定最终对齐质量的关键步骤。 然而,以全自动的方式准确,有效地跟踪基准标记仍然是一个挑战性的问题。结果:在本文中,我们提出了一种鲁棒而有效的基准标记跟踪方案。 首先,我们从理论上证明了通过仿射变换来对齐两个显微照片上基准标记位置的变换偏差的上限。 其次,我们设计了一种基于高斯混合模型的自动算法,以加快基准标记跟踪的过程。 第三,我们提出了一种针对镜头畸变的分
所属分类:
其它
发布日期:2021-03-14
文件大小:1036288
提供者:
weixin_38697753