注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. 用光电二极管列阵测干涉条纹周期的精度分析

  2. 分析了用1024单元的光电二极管列阵测量干涉条纹周期时,采样密度对测量精度的影响.采样数据的量化为256,每个干涉条纹的采样点数从10至30左右时,测量精度最高,可优于2×10~(-5).量化小时,最佳采样密度变小.

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-25
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：weixin_38737144