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  1. 用干涉显微镜测量薄膜厚度的改进与分析

  2. 将干涉显微镜的应用推广到透明薄膜厚度的测量,扩展了干涉显微镜的测量范围和应用领域. 基于菲涅耳公式,分析了透明薄膜界面的反射. 根据白光干涉原理,利用圆形样品台的定量移动,实现了薄膜厚度的测量

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-06-23
    • 文件大小：217088
    • 提供者：zlshmily