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  1. 用平场光栅谱仪现场标定5FW X光底片

  2. 采用像散模式的平场光栅谱仪作为分光元件,点状镁激光等离子体X射线源为原始光源,获得均匀线状单色软互射线再生源,在此基础上,用多阶梯衰减膜为相对曝光强度标尺,现场标定了上海感光胶片厂生产的5FW无保护膜X光底片,给出了5.0~8.0 nm间的底片响应特性.
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-05
    • 文件大小:2097152
    • 提供者:weixin_38615783