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  1. 用衰减全反射法研究极薄介质层的光学性质

  2. 本文介绍用衰减全反射方法,对银膜及银膜衬底上极薄介质层的衰减全反射谱(ATR谱)进行测量和拟合运算,利用衰减峰位移和增宽确定极薄介质层的光学常数,根据本文的实验条件,可测介质层的薄达5A。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-04
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：weixin_38553478