吉时利(Keithley)仪器公司日前发布用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACS V3.2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新圆片级打点功能，并以1fA电流测量分辨率支持吉时利最新2635和2636型系统数字源表，进一步增强ACS集成测试系统强大自动测试功能。这些新功能为用户提供最具性价比功能组合，实现极高测试灵活性和产能——其中包括面向实验室和生产配置的无人值守操作。 更大灵活性和产能 　　新一代半导体技术要求以更短